| 設備名稱 | 
                
  	            
    	               掃描穿透式電子顯微鏡(JEOL JEM 2100) | 
    	        
  	            
    	        
    	               掃描穿透式電子顯微鏡(JEOL 2000FX2) | 
    	        
    	         
    	               X光繞射儀(Bruker D8A,D2) | 
    	        
                
    	               小角度X光繞射儀(Rigaku NANO-Viewer) | 
    	        
                
    	               凹片機(South Bay Technology Model515) | 
    	        
                
    	               離子薄化機(Gatan Model 600) | 
    	        
                
    	               歐傑/光電子/紫外光 電子能譜儀(VG Sigma Probe) | 
    	        
                
    	               熱重分析儀、熱差分析儀(Perkin Elmer pyris-1)、(Diamond DSC) 、(Mettler DSC) 、(Netzsch HTDSC/TG) | 
    	        
                
    	               氮氣吸附孔隙儀(Micromeritics ASAP2010 、ASAP2020) | 
    	        
                
    	               雷射粒徑分析儀(ZEN 4003) | 
    	        
                
    	               場發掃描式電子顯微鏡 (FEI NOVA 230) 、(Hitachi S800) 、(FEI Inspect F50) | 
    	        
                
    	               聚焦離子束顯微鏡(FEI Versa 3D) | 
    	        
                
    	               低真空掃描式電子微鏡(Hitachi 3500N) | 
    	        
                
    	               顯微拉曼光譜系統(Uni RAM) |