設備名稱 |
掃描穿透式電子顯微鏡(JEOL JEM 2100) |
掃描穿透式電子顯微鏡(JEOL 2000FX2) |
X光繞射儀(Bruker D8A,D2) |
小角度X光繞射儀(Rigaku NANO-Viewer) |
凹片機(South Bay Technology Model515) |
離子薄化機(Gatan Model 600) |
歐傑/光電子/紫外光 電子能譜儀(VG Sigma Probe) |
熱重分析儀、熱差分析儀(Perkin Elmer pyris-1)、(Diamond DSC) 、(Mettler DSC) 、(Netzsch HTDSC/TG) |
氮氣吸附孔隙儀(Micromeritics ASAP2010 、ASAP2020) |
雷射粒徑分析儀(ZEN 4003) |
場發掃描式電子顯微鏡 (FEI NOVA 230) 、(Hitachi S800) 、(FEI Inspect F50) |
聚焦離子束顯微鏡(FEI Versa 3D) |
低真空掃描式電子微鏡(Hitachi 3500N) |
顯微拉曼光譜系統(Uni RAM) |